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Intelligent Software Defect Prediction, Fachbücher von Xiao-Yuan Jing, Baowen Xu, Haowen ChenDas Fachbuch "Intelligent Software Defect Prediction" bietet eine umfassende Analyse der aktuellen Forschung im Bereich der Softwarefehlerprognose (SDP). Angesichts der zunehmenden Komplexität und Abhängigkeit von Softwareprodukten ist die Vorhersage von Softwarefehlern entscheidend für die Qualitätssicherung. Das Buch behandelt verschiedene maschinelle Lernansätze zur Fehlerprognose, die für unterschiedliche Szenarien entwickelt wurden, und bietet tiefgehende Einblicke in deren Leistung sowie die Herausforderungen, die in zukünftigen Forschungsanstrengungen zu bewältigen sind. Es richtet sich an Forscher, Studierende und Praktiker, die ein vertieftes Verständnis für SDP erlangen oder neue Forschungsrichtungen erkunden möchten. Die detaillierte Darstellung der Ansätze und die theoretischen Analysen machen dieses Buch zu einer wertvollen Ressource für alle, die sich mit Softwarequalität und -wartung beschäftigen.192,59 €*Versand: 0,00 €Sichere Weiterleitung zum Anbieter
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Springer Intelligent Software Defect Prediction (Englisch, Hardcover, Baowen Xu, Haowen Chen, Xiao-Yuan Jing) (63673558)Springer Intelligent Software Defect Prediction (Englisch, Hardcover, Baowen Xu, Haowen Chen, Xiao-Yuan Jing) (63673558)192,59 €*Versand: 0,00 €Sichere Weiterleitung zum Anbieter
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Nanostructured Photocatalyst via Defect Engineering, Fachbücher von Vitaly GurylevDas Buch "Nanostructured Photocatalyst via Defect Engineering" bietet eine umfassende Einführung in die Prinzipien und Grundlagen des Defekt-Engineerings zur Entwicklung effizienter Photokatalysatoren. Es ist in zwei Hauptteile gegliedert, die sich jeweils mit unterschiedlichen Arten von Defekten befassen. Der erste Teil behandelt die intrinsischen Defekte und deren kontrollierte Einführung, um die Eigenschaften von Photokatalysatoren gezielt zu modifizieren. Der Autor erläutert die Bedeutung von Konzentration, Verteilung und Diffusion dieser Defekte. Der zweite Teil widmet sich den extrinsischen Defekten, die durch metallische und nicht-metallische Dotierstoffe entstehen, und beschreibt deren Eigenschaften und Einfluss auf die Effizienz von Photokatalysatoren. Dieses Buch schliesst eine Wissenslücke hinsichtlich der Beziehung zwischen Defektintroduktion in Halbleitermaterialien und deren photocatalytischer Leistung. Es richtet sich an Studierende, Akademiker und Forscher, die sich für Photokatalysatoren, Defekt-Engineering und verwandte Themen im Bereich der sauberen Energie und Nanomaterialien interessieren.213,99 €*Versand: 0,00 €Sichere Weiterleitung zum Anbieter
Digital Noise Monitoring of Defect Origin, Fachbücher von Telman Aliev
"Digital Noise Monitoring of Defect Origin" ist ein Fachbuch, das sich an Akademiker und Fachleute in den Bereichen Ingenieurwesen, biologische Wissenschaften, Physik und Automatisierung richtet. Besonders relevant ist es für die Bereiche der Energieversorgung, Öl- und Gasförderung sowie der Luftfahrt. Das Buch behandelt die Identifizierung und Überwachung von Defektursachen und gliedert den Prozess in verschiedene Phasen: die Überwachung des Defekts, die Identifikation und die Kontrolle. Ein zentrales Anliegen des Werkes ist die Nutzung von Geräuschen als Datenüberträger, um Technologien zu entwickeln, die in der Lage sind, frühe Veränderungen an Objekten zu erkennen. Diese innovative Herangehensweise bietet wertvolle Einblicke in die Prävention und das Management von Defekten in verschiedenen technischen Anwendungen.
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Intelligent Software Defect Prediction, Fachbücher von Xiao-Yuan Jing, Baowen Xu, Haowen ChenDas Fachbuch "Intelligent Software Defect Prediction" bietet eine umfassende Analyse der aktuellen Forschung im Bereich der Softwarefehlerprognose (SDP). Angesichts der zunehmenden Komplexität und Abhängigkeit von Softwareprodukten ist die Vorhersage von Softwarefehlern entscheidend für die Qualitätssicherung. Das Buch behandelt verschiedene maschinelle Lernansätze zur Fehlerprognose, die für unterschiedliche Szenarien entwickelt wurden, und bietet tiefgehende Einblicke in deren Leistung sowie die Herausforderungen, die in zukünftigen Forschungsanstrengungen zu bewältigen sind. Es richtet sich an Forscher, Studierende und Praktiker, die ein vertieftes Verständnis für SDP erlangen oder neue Forschungsrichtungen erkunden möchten. Die detaillierte Darstellung der Ansätze und die theoretischen Analysen machen dieses Buch zu einer wertvollen Ressource für alle, die sich mit Softwarequalität und -wartung beschäftigen.192,59 €*Versand: 0,00 €Sichere Weiterleitung zum Anbieter
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